Metalografi,metallerin ve alaşımların yapısının,özellikle X ışını kırınımı ve mikroskop (optik ve elektron) teknikleriyle incelenmesi




Metal yüzeylerin ve çatlakların çıplak gözle yada büyülteçle ya da 10 çaptan daha küçük büyütmeli metalurji mikroskopu altında incelenmesiyle ,malzemenin kristal,kimyasal ve mekanik heterojenliğine ilişkin önemli bilgiler elde edilebilirMetalografide kristal heterojenliğine yol açan içyapı bölgelerine tane (gren) denirKimyasal heterojenlik katışkılardan ,kimyasal elementlerin birikmesinden (segregasyon) ve metaldışı kalıntılardan (enklüzyon) kaynaklanırMekanik heterojenlik ise,imalat sırasında ortaya çıkan bölgesel yapı biçim değiştirmelerinin (deformasyon),metaldışı kalıntıların uzaması ya da bozulmasının ( distorsiyon) ve kimyasal birikim bölgelerinin oluşmasının bir sonucudur

Parlatılmış ya da dağlanmış yüzeylerin 100-1,500 çap arasında değişen büyültme gücüne sahip mikroskop altında incelenmesiyle tanelerin biçim ve boyutlarına ,yapı fazlarının ve metaldışı kalıntıların dağılımına mikkoskopik düzeydeki birikintilere ve öteki yapısal özelliklere ilişkin bilgi edinilebilirMetalografik dağlama ( parlatılmış yüzeye yenimleyici bir kimyasal çözelti uygulanması)yöntemiyle yüzeyden içeri denetimli bir biçimde girilerek yapısal inceleme yapılırÖrneğin tane yapısını ve yönelimini saptamak,yüzeydeki oksit katmanını incelemek ve farklı bileşim fazlarını belirlemek için kutuplanmış ışıktan yararlanılır

Elektron mikroskopunda örneğin üzerine bir elektron demeti düşürülür0,005 mikrondan ( 1 mikron = 0,001mm) daha kalın metal katmanlarından ancak yüksek enerjili elektronlar geçebileceğinden yüzeyin ince bir mikroskop örneğinin hazırlanması gerekirBunun için dağlanmış yüzeye plastik bir çözelti dökülürzar halinde katılaşan çözeltinin bir yüzeyinde asıl örneğin yüzey konturlarının ters görünümü oluşurElektronların 100 kiloelektron volt düzeyine kadar hızlandırıldığı geçişli elektron mikroskoplarının geliştirilmesiyle ince metal folyoların iç ayrıntılarının incelenmesi olanaklı duruma gelmiştir

X ışını kırınımı yöntemi ise,metal örneğin üzerine X ışınlarının düşürülmesi ve ışınların,düzenli biçimde yerleşmiş atom düzlemlerince kırınıma uğratılması tekniğine dayalı olarak gerçekleştirilirKırındırılmış ışınlar çoğunlukla bir fotoğraf filmi üzerine kaydedilerek oluşan kırınım desenleri incelenirBu yolla,örnekteki atomların konumu ve dolayısıyla da fazların kristografisi ,iç gerilimler ve çözeltiler içindeki çözünen atomlar belirlenir